待测装置、测试器及用于测试待测装置的方法[发明专利]

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专利名称：待测装置、测试器及用于测试待测装置的方法专利类型：发明专利发明人：杨宗杰

申请号：CN2013106310.1申请日：20131129公开号：CN1038703A公开日：20140611

摘要：本发明公开了一种待测装置、测试器及用于测试所述待测装置的方法。所述待测装置具有一连接接口、一控制器以及一功能区块。所述连接接口是用以接收以一第一时钟速率所传送的一测试型样并且输出一功能测试结果。所述控制器是用以通过使用一第二时钟速率来对所述测试型样进行取样并据以产生一取样后测试型样，其中所述第二时钟速率高于所述第一时钟速率。所述功能区块是用以对所述取样后测试型样执行一特定功能并据以产生所述功能测试结果。通过本发明，可达到用一低速测试器来对一待测装置进行一实速功能测试的目的，进而降低测试成本。

申请人：慧荣科技股份有限公司

地址：中国新竹县

国籍：CN

代理机构：深圳新创友知识产权代理有限公司

代理人：江耀纯

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